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10. 地球惑星科学研究拠点

表面電離型質量分析計

 設置年:2018

独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
TRITON Plus質量分析計

自己測定 学内 学外
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10. 地球惑星科学研究拠点

高分解能ICP質量分析計

 設置年:2018

独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 iCAP TQ

自己測定 学内 学外
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10. 地球惑星科学研究拠点

二次イオン質量分析計

 設置年:2018

フランス共和国 カメカ社製
IMS 1280-HR

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10. 地球惑星科学研究拠点

MS部/DESIイメージング部(有機物質量分析計システム)

 設置年:2018

米国サーモフィッシャサイエンティフィック社製 Orbitrap Fusion 外

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10. 地球惑星科学研究拠点

低分子構造解析部(有機物質量分析計システム)

 設置年:2018

米国サーモフィッシャサイエンティフィック社製 VanquishOrbitrap Fusion 外

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10. 地球惑星科学研究拠点

タンパク・ペプチド解析部(有機物質量分析計システム)

 設置年:2018

米国サーモフィッシャサイエンティフィック社製 EASY-nLC 1200 外

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10. 地球惑星科学研究拠点

GCMS部(有機物質量分析計システム)

 設置年:2018

米国サーモフィッシャサイエンティフィック社製 ISQ LT,EI,真空ロック,300

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10. 地球惑星科学研究拠点

高分解能マルチコレクターICP質量分析計

 設置年:2017

独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
NEPTUNE Plus 外

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10. 地球惑星科学研究拠点

表面電離型質量分析計

 設置年:2017

独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
TRITON Plus Bundle 2 SEM/RPQ 外

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10. 地球惑星科学研究拠点

高分解能核磁気共鳴装置

 設置年:2017

独国ブルカー・バイオスピン社製
AVANCE NEO 400型

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10. 地球惑星科学研究拠点

全真空赤外顕微鏡システム

 設置年:2017

日本分光(株)製
IRT-5200IPMY

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10. 地球惑星科学研究拠点

電界放出型電子プローブマイクロアナライザー

 設置年:2014

日本電子(株)製 JXA-8530F

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10. 地球惑星科学研究拠点

赤外顕微鏡システム

 設置年:2011

米国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製

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10. 地球惑星科学研究拠点

顕微レーザーラマンシステム

 設置年:2011

DXR Raman Microscope

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10. 地球惑星科学研究拠点

研究開発用マグネトロンスパッタリング装置

 設置年:2010

芝浦メカトロニクス(株)製
(F10000000002191)

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10. 地球惑星科学研究拠点

微細結晶方位解析システム

 設置年:2009

日本電子㈱
JSM-7001F 外

自己測定 学内 学外
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10. 地球惑星科学研究拠点

高精度安定同位体比質量分析計

 設置年:2009

独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製
(140015004515)

自己測定 学内 学外
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10. 地球惑星科学研究拠点

希ガス用同位対比測定用質量分析計

 設置年:2009

独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製
(140015004515)

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10. 地球惑星科学研究拠点

透過電子顕微鏡

 設置年:2009

日本電子㈱製
(140015004473)

自己測定 学内 学外
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10. 地球惑星科学研究拠点

集束イオンビーム装置

 設置年:2009

日本電子㈱製
(140015004473)

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10. 地球惑星科学研究拠点

走査電子顕微鏡

 設置年:2009

日本電子㈱製
(140015004473)

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圧力測定用ラマンユニット
10. 地球惑星科学研究拠点

圧力測定用ラマンユニット

 設置年:2009

日本分光(株)製
RMP-DAC

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10. 地球惑星科学研究拠点

高圧プレス用ポンプユニット

 設置年:2008

理研精機(株)製
(140015003103)

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電界放出形走査電子顕微鏡
10. 地球惑星科学研究拠点

電界放出形走査電子顕微鏡

 設置年:2008

日本電子㈱製
JMS-7001F

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