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走査プローブ顕微鏡

設置年:2000

ニホンデンシ JSPM-4610

自己測定 学内 学外
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ナノ物性高精度合成評価システム

設置年:2013

多元高精度薄膜合成/加工ユニット他

自己測定 学内 学外
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全自動電気泳動システム

設置年:2020

Agilent 4150 TapeStation システム

自己測定 依頼測定 学内 学外
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自動核酸抽出システム

設置年:2020

Promega Maxwell RSC48

自己測定 依頼測定 学内 学外
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多光子励起レーザ走査型顕微鏡

設置年:2012

オリンパス(株)製 FV1200MPE

自己測定 学内 学外
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リアルタイムPCRシステム

設置年:2012

BioRad CFX96 リアルタイム PCR 解析システム

自己測定 依頼測定 学内 学外
スピン分解光電子分光装置

スピン分解光電子分光装置

設置年:2009

スウェーデン国VGシエンタ社

自己測定 学内 学外
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光電子アナライザー

設置年:2008

スウェーデン国VGシエンタ社 R40000WAL

自己測定 学内 学外
蛍光X線分析計マイクロエレメントモニタ

蛍光X線分析計マイクロエレメントモニタ

設置年:2005

セイコーインスツルメンツ製
SEA5120S 外

自己測定 学内 学外
自動ポロシメータ

自動ポロシメータ

設置年:2003

㈱島津製作所製 オートポアⅣ9510 外

自己測定 学内 学外
ベクトル・ネットワークアナライザ

ベクトル・ネットワークアナライザ

設置年:2001

アンリツMS4622Bベクトルネットワークアナライザ

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プローブ顕微鏡

設置年:1999

セイコーインスツルメンツ
SPI3800N

自己測定 学内 学外
コンクリート構造試験機

コンクリート構造試験機

設置年:1989

島津製作所 U40

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動ヤング率測定器

設置年:2017

マルイ MIN-011-0-10(PCオートスキャン型)

自己測定 部局内限定 学外
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電気化学測定システム

設置年:2016

北斗電工 HZ-7000 FRAボード含む

自己測定 部局内限定 学外
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凍結融解試験装置

設置年:2014

(株)マルイ製 MIT-683-3-40

自己測定 部局内限定 学外
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原子吸光分光光度計

設置年:2009

(株)島津製作所製 AA-6200

自己測定 部局内限定 学外
ルミノ・イメージアナライザー

ルミノ・イメージアナライザー

設置年:2008

富士フィルム社製
LAS-4000mini

自己測定 部局内限定 学外
リアルタイムPCRシステム

リアルタイムPCRシステム

設置年:2008

ABI社製
StepOne(48well)

自己測定 部局内限定 学外
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イオンクロマトグラフ

設置年:2008

㈱島津製作所製 HIC-SPシングルシステム サプレッサ方式 陰イオン分析用

自己測定 部局内限定 学外
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X線回析装置

設置年:2005

㈱島津製作所製 XRD-6100

自己測定 部局内限定 学外
共焦点レーザー顕微鏡

共焦点レーザー顕微鏡

設置年:2002

カールツァイス
LSM510-meta

自己測定 部局内限定 学外
表面粗さ測定器

表面粗さ測定器

設置年:1998

ミツトヨ SV-524

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32. 共同利用装置ではない。

レーザー共焦点顕微鏡

設置年:2016

独国ライカマイクロシステムズ社製 TCS SP8 X

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