イオントラップ型質量分析装置
13.所管部局の事務

イオントラップ型質量分析装置

設置年:2009

ブルカーHCT

自己測定 学内
飛行時間型質量分析装置
13.所管部局の事務

飛行時間型質量分析装置

設置年:2009

ブルカーmicrOTOF

自己測定 学内
NO IMAGE

透過型顕微鏡+EDX

設置年:1996

日立 H-7510

自己測定 学内
NO IMAGE

電界放射型走査電子顕微鏡

設置年:1987

日立 S-800

自己測定 学内
電子スピン共鳴装置(ESR)

電子スピン共鳴装置(ESR)

設置年:1983

日本電子(株)製 電子スピン共鳴装置(JES-FE3XG) 外

自己測定 学内
卓上顕微鏡

卓上顕微鏡

設置年:2012

(株)日立ハイテクノロジーズ

自己測定 学内 学外
スピン分解光電子分光装置-光電子アナライザー

スピン分解光電子分光装置-光電子アナライザー

設置年:2009

スウェーデン国VGシエンタ社

自己測定 学内 学外
エリプソメータ

エリプソメータ

設置年:2007

JASCO M-220

自己測定 学内 学外
蛍光X線分析計マイクロエレメントモニタ

蛍光X線分析計マイクロエレメントモニタ

設置年:2005

セイコーインスツルメンツ製
SEA5120S 外

自己測定 学内 学外
自動ポロシメータ

自動ポロシメータ

設置年:2003

⑭島津製作所製 オートポア・9510 外

自己測定 学内 学外
ベクトル・ネットワークアナライザ

ベクトル・ネットワークアナライザ

設置年:2001

アンリツMS4622Bベクトルネットワークアナライザ

自己測定 学内 学外
NO IMAGE

プローブ顕微鏡

設置年:1999

セイコーインスツルメンツ
SPI3800N

自己測定 学内 学外
レーザ顕微鏡

レーザ顕微鏡

設置年:1999

オリンパス(株)製 走査型共焦点レーザ顕微鏡(OLS1100)

自己測定 学内 学外
結晶解析機能付微小表面分析電子顕微鏡

結晶解析機能付微小表面分析電子顕微鏡

設置年:1998

(株)日立サイエンスシステムズ製
S-3500N形走査電子顕微鏡 1台

オックスフォード・インストゥルメンツ(株)
Link Opal EBSD システム 1台

自己測定 学内 学外
コンクリート構造試験機

コンクリート構造試験機

設置年:1989

島津製作所 U40

自己測定 学内 学外
NO IMAGE

高速液体クロマトグラフ質量分析計

設置年:2014

(株)島津製作所製 LCMS-8040システム

自己測定 学内
テトラアーク式単結晶引き上げ

テトラアーク式単結晶引き上げ

設置年:2009

(株)テクノサーチ TCA4-6-0

自己測定 学内
粉末X線回折装置(メカノプロセス評価システム)

粉末X線回折装置(メカノプロセス評価システム)

設置年:2009

リガク製RINT2500

自己測定 学内
蛍光顕微鏡

蛍光顕微鏡

設置年:2008

キーエンス BZ-9000 外

自己測定 学内
ICP発光分光分析装置

ICP発光分光分析装置

設置年:2005

セイコーインスツルメンツ
VISTA-PRO

自己測定 学内
四重極LC/MS/MSシステム

四重極LC/MS/MSシステム

設置年:2005

英国マイクロマス社
QUATTRO ULTIMA PT

自己測定 学内
自動蒸気吸着状態可視化装置

自動蒸気吸着状態可視化装置

設置年:2001

日本ベル BELSORP-18PLUS-TSP他

自己測定 学内
レーザー量子効果素子分析装置(MBE装置、および、レーザプローブ群・光検出システム)

レーザー量子効果素子分析装置(MBE装置、および、レーザプローブ群・光検出システム)

設置年:1995

【MBE装置】
MBEソウチニホンシンクウMCS2000
【レーザプローブ群・光検出システム】
> Spectron/SL452G
> Spectra Physics/2060-5S
> Avesta/TIS-70
> mutek/TLS120,TLS230
> SOLAR/LF211 ほか

学内
レーザーマイクロダイセクションシステム

レーザーマイクロダイセクションシステム

設置年:2009

ドイツ国ライカマイクロシステムズ社製 LMD6500電動ステージEシステム

自己測定 部局内限定 学外