日本電子⑭製

集束イオンビーム装置

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概要

試料を、マイクロスケールからナノスケールに加工・切断しTEM試料等を作成する装置。

自己測定 学内 学外
設置年 2009
装置カテゴリ
適合分野 化学系
管理部局 惑星物質研究所
使用責任者

惑星研 中村 栄三
(内線 3745)

拠点

10. 地球惑星科学研究拠点

共同利用について

利用にあたっての留意事項

使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。

費用負担

惑星研負担

詳細情報 http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/
利用方法や利用規程 http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/

設置場所

研究棟


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