走査顕微鏡 外 日本電子JSM-6510LV 外

高解像度画像解析システム(走査型電子顕微鏡)

高解像度画像解析システム(走査型電子顕微鏡)

概要

生物試料に加圧電子を照射し、生じた2次電子を捕捉することにより試料表面の形状を観察する装置である。

自己測定 学内 学外
設置年 2009
装置カテゴリ
適合分野 生物学系
管理部局 理学部
使用責任者

理学部(生)
高橋 卓
(内線 7858)

拠点

13. 所管部局の事務

共同利用について

利用にあたっての留意事項

使用責任者の許可を得た後、指示に従って使用する

費用負担

使用時間に応じた費用負担

機器利用の申込・お問い合わせ

設置場所

自然科学研究科棟 3階 320号室


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