試料水平型回転対陰極式X線回折装置 (株)リガク製(RINT-TTR・-MTA) X線発生装置(18K

水平型粉末X線回折装置

水平型粉末X線回折装置

概要

本装置は、X線を用いて試料表面に照射し、回折するX線のパターンを測定することによって、非破壊で試料の結晶性とその方位決定を行うものである。

装置の仕様・特色

粉末材料構造評価X線回折装置
Cuローターターゲット、18kWを光源としている。 試料を水平に設置できる。試料位置のあおり角などを、測定の度ごとに自動で調整する機能を備える。 窒素ガスフロー方式により、試料温度を100Kから570Kの範囲で可変できる。ICDDのPDF2を備え定性分析が可能である。

自己測定 依頼測定 学内 学外
設置年 2009
装置カテゴリ X線回折(粉末)
適合分野 物理系・その他
管理部局 自然生命科学研究支援センター
使用責任者

自然科学研究科
池田 直 (内線 7810)

拠点

03. 自然生命科学研究支援センター  分析計測・極低温部門

共同利用について

利用にあたっての留意事項

自己測定利用者は、使用責任者の指示に従って使用してください(分析センター管轄)。
学外は依頼分析のみを受付けている。

費用負担

利用料金を徴収している。

(29年度) 
自己測定 (学内のみ):35円/0.1時間
依頼測定
  (学内): 2,000円/1時間
  (学外):30,000円(基本料金)+10,000円/時間 
     (基本料金に1時間の測定を含む)

http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/20170321_dia_fee_all.pdf
自己測定利用法

監守者に連絡し、運転方法などを相談する

放射線業務従事者登録を済ませた者に限る。
使用時には必ずクイクセルバッジ(旧称ルクセルバッジ、フィルムバッジ)を必ず着用してください。

設備NW予約システムへ登録し、予約をしてから、装置を使用する事。

詳細情報 http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/equipments/view/471
利用方法や利用規程 http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/dia/kitei_riyouyoukou.pdf
予約するお問い合わせ

依頼測定について

分析内容

分析計測分野では、粉末・薄膜結晶試料のX線回折測定および単結晶X線構造解析の依頼測定(受託測定)を受け付けています。単結晶X線構造解析では、良好な単結晶さえあれば詳細な構造解析結果が得られます。単結晶作成の相談も無料で行っております。

【主な受託内容】
 粉末試料:
 ・プロファイル測定 ・定性、同定分析(データベース、既存プロファイルとの照合) ・結晶化度評価分析(非結晶 または 結晶質)
 薄膜結晶:
 ・配向性評価 ・格子定数解析 ・結晶方位解析
 単結晶構造解析:
 ・2次元回折像測定 ・画像データ処理 ・分子構造解析

申込方法

初めてご利用の方は、オペレータまでお問合せください。
学内の方用または学外の方用の「分析依頼申込書」をダウンロードし、記入押印の上、サンプルとともに分析計測分野職員室までご持参または郵送してください。

(学外の方)
 年度の初回のご利用の際に、利用者登録用紙の提出をお願いいたします。
 設備NW参画校の方が、設備NWのWEB課金システムを使って支払いをされる場合は、利用者登録は不要です。
 設備NWのURL:
 https://chem-eqnet.ims.ac.jp/index.html

申込用紙 http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/measure/howtouse#documents
依頼測定の申込・お問合せ

設置場所

コラボレーションセンター 2階 214号室

214
内線:8743
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