米国メトリコン社製 プリズムカプラ モデル2010
赤外表面分析装置
概要
膜厚測定,屈折率とその深さ方向の分布測定,光導波特性の評価を行なうことができる。
励起光源:473,633,980,1550nm
屈折率測定:TE,TMモード,精度±0.0001以内
キーワード:物理,化学,工学,材料,無機,固体,表面,分析,レーザ
自己測定
学内 学外
| 設置年 | 2002 |
|---|---|
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 化学系 |
| 管理部局 | 環境理工学部 |
| 使用責任者 | 環境生命科学研究科 |
| 拠点 | 14. 環境理工学部 |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 | 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。 |
|---|---|
| 費用負担 |
使用時間に応じた費用負担が必要 |