日本分光・M220

エリプソメータ

エリプソメータ

概要

偏光解析法により、薄膜の厚さや屈折率を精度よく測定する。エリプソメータは光を透過する材料であれば全て評価対象となる.

リユース 成立済
設置年 1998年
装置カテゴリ 1. 光分析・解析装置
適合分野 1. 化学系 2. 物理系 4. 工学系 5. 医学系

リユースについて

提供者所属 環境理工学部
情報提供日 2016/12/01
リユース前所属・設置場所

東京工業大学

リユース後所属・設置場所

岡山大学環境理工学部

リユース後の用途

1.共同利用機器

リユース後共同利用情報URL /equipments/view/R20161201004