NO IMAGE
31. 所管部局・所属学科の事務

気象衛星データ受画・解析装置

設置年:1998

Sunマイクロシステム
ワークステーション他

自己測定 学内 学外
培養装置
31. 所管部局・所属学科の事務

培養装置

設置年:1994

丸菱50L ジャーファーメンター 2台

自己測定 学外
結晶解析機能付微小表面分析電子顕微鏡
32. 共同利用装置ではない。 30. その他のグループに所属(工学部 応用固体力学研究室)

結晶解析機能付微小表面分析電子顕微鏡

設置年:1998

(株)日立サイエンスシステムズ製
S-3500N形走査電子顕微鏡 1台

オックスフォード・インストゥルメンツ(株)
Link Opal EBSD システム 1台

自己測定 学内 学外
NO IMAGE
32. 共同利用装置ではない。 30. その他のグループに所属(機械生産工学グループ)

表面性能評価装置

設置年:1996

神鋼造機
SZ-VFT-95-B01B 他

自己測定 学内 学外
NO IMAGE
32. 共同利用装置ではない。

レーザー共焦点顕微鏡

設置年:2016

独国ライカマイクロシステムズ社製 TCS SP8 X

学内 学外
NO IMAGE
32. 共同利用装置ではない。

走査型共焦点レーザー顕微鏡・解析装置

設置年:2002

オリンパス OLS1100F

自己測定 学内 学外
レーザーマイクロダイセクションシステム
32. 共同利用装置ではない。

レーザーマイクロダイセクションシステム

設置年:2009

ドイツ国ライカマイクロシステムズ社製 LMD6500電動ステージEシステム

自己測定 部局内限定 学外
NO IMAGE
32. 共同利用装置ではない。

レーザードップラ流速計

設置年:2008

ダンテック・ダイナミクス社製

自己測定 部局内限定 学外
NO IMAGE
32. 共同利用装置ではない。

超高速現象画像情報計測システム

設置年:2002

超高速デジタルフレーミング
カメラ 浜松C7977-01S 他

自己測定 部局内限定 学外
NO IMAGE
32. 共同利用装置ではない。

熱流動現象可視化処理装置

設置年:1997

アルゴンイオンレーザ:スペクトラフィジックス
高速度ビデオカメラ:フォトロンUltima

自己測定 部局内限定 学外
FACS
32. 共同利用装置ではない。

FACS

設置年:1995

ベクトンデッキンソン イムノサイメトリ FACS CALIBUR 外

自己測定 部局内限定 学外
表面粗さ測定器

表面粗さ測定器

設置年:1998

ミツトヨ SV-524

自己測定 学内 学外
NO IMAGE

走査プローブ顕微鏡

設置年:2000

ニホンデンシ JSPM-4610

自己測定 学内 学外
NO IMAGE

ナノ物性高精度合成評価システム

設置年:2013

多元高精度薄膜合成/加工ユニット他

自己測定 学内 学外
NO IMAGE

全自動電気泳動システム

設置年:2020

Agilent 4150 TapeStation システム

自己測定 依頼測定 学内 学外
NO IMAGE

自動核酸抽出システム

設置年:2020

Promega Maxwell RSC48

自己測定 依頼測定 学内 学外
NO IMAGE

多光子励起レーザ走査型顕微鏡

設置年:2012

オリンパス(株)製 FV1200MPE

自己測定 学内 学外
NO IMAGE

リアルタイムPCRシステム

設置年:2012

BioRad CFX96 リアルタイム PCR 解析システム

自己測定 依頼測定 学内 学外
スピン分解光電子分光装置

スピン分解光電子分光装置

設置年:2009

スウェーデン国VGシエンタ社

自己測定 学内 学外
NO IMAGE

光電子アナライザー

設置年:2008

スウェーデン国VGシエンタ社 R40000WAL

自己測定 学内 学外
蛍光X線分析計マイクロエレメントモニタ

蛍光X線分析計マイクロエレメントモニタ

設置年:2005

セイコーインスツルメンツ製
SEA5120S 外

自己測定 学内 学外
自動ポロシメータ

自動ポロシメータ

設置年:2003

㈱島津製作所製 オートポアⅣ9510 外

自己測定 学内 学外
ベクトル・ネットワークアナライザ

ベクトル・ネットワークアナライザ

設置年:2001

アンリツMS4622Bベクトルネットワークアナライザ

学内 学外
NO IMAGE

プローブ顕微鏡

設置年:1999

セイコーインスツルメンツ
SPI3800N

自己測定 学内 学外