日本電子株式会社 JPS-9030

X線光電子分光装置

X線光電子分光装置

概要

用途・特徴: 原子・分子の結合状態の分析分析,元素分析(定性,定量),表面分析
測定可能な試料の形態: 固体(小塊,粉末試料も可)

依頼分析にのみ、対応しています。

装置の仕様・特色

用途:原子・分子の結合状態の分析,元素分析(定性,定量)
特徴:表面分析(表面下 数 nm の情報が得られます。)

※ 必要量:数十 mg 程度(スパチュラ 1 杯分)
※ 液体,気体試料の分析はできません。
※ 高真空下で測定するため,試料はよく乾燥が必要です。

自己測定 依頼測定 学内 学外
設置年 2016年設置
装置カテゴリ
適合分野 材料系・物理系・化学系
管理部局 異分野融合先端研究コア
使用責任者

異分野融合コア 仁科 勇太 (内線 8718)
(副)自然生命科学研究支援センター 中野 知佑 (内線 8747)

拠点

12. その他のグループに所属(新共用)

共同利用について

利用にあたっての留意事項

依頼分析にのみ、対応しています。
分析例などを詳細情報に掲載しています。
岡山大学内に限らず、近隣の大学、企業の方も利用できます。利用の流れは、以下よりご覧ください。
http://www.tt.vbl.okayama-u.ac.jp/nagare.html

費用負担

学内:\ 5,000 / 1 回
大学等:\ 10,000 / 1 回
企業等:\ 30,000 / 1 回

http://www.tt.vbl.okayama-u.ac.jp/img/2_1_ryokin.pdf
その他

・依頼分析のみ受付(試料最大4個)
・Arイオンエッチング:(試料最大3個)1試料1回照射毎に1,500円加算。ただし長時間照射は追加料金が発生する場合がある。(応相談)

詳細情報 http://www.tt.vbl.okayama-u.ac.jp/img/kyoyoukiki-01.pdf
利用方法や利用規程 http://www.tt.vbl.okayama-u.ac.jp/img/1_1_riyoukitei.pdf
機器利用の申込・お問い合わせ

依頼測定について

依頼測定の申込・お問合せ

設置場所

新技術研究センター1階 107号室


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