日本電子(株)製 JSM-7001F 外
電子銃(電子線源となる)を用いて、電子線を収束させた細い電子線を試料に照射し、その表面形態を観察する装置。試料表面の凹凸や形態の観察や表面分析(局所組成、元素分布など)が可能。
工学 機械 固体 表面 顕微 分析 電子
設置年 | 2009 |
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装置カテゴリ | |
適合分野 | 工学系 |
管理部局 | 工学部 |
使用責任者 | 自然科学研究科(工) |
拠点 | 30. その他のグループに所属(機械生産工学グループ) |
工学部1号館B323号室