日本電子(株)製 JSM-7001F 外

走査電子顕微鏡システム

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概要

電子銃(電子線源となる)を用いて、電子線を収束させた細い電子線を試料に照射し、その表面形態を観察する装置。試料表面の凹凸や形態の観察や表面分析(局所組成、元素分布など)が可能。
工学 機械 固体 表面 顕微 分析 電子

自己測定 学内
設置年 2009
装置カテゴリ
適合分野 工学系
管理部局 工学部
使用責任者

自然科学研究科(工)
藤井正浩
(内線 8035)

拠点

30. その他のグループに所属(機械生産工学グループ)

共同利用について

利用にあたっての留意事項

依頼測定は不可.設備管理者が常駐していないため,使用責任者の指示に従ってください.

費用負担

使用時間に応じた費用負担が必要,また主要部品の交換費は使用者で折半(2-3年ごとに100万円必要).
学外開放にあたっては、取扱方法等要検討

設置場所

工学部1号館B323号室