JIB-4500, EDS, EBSP(使用不可)
分析SEM/FIB複合機
概要
FIB加工,サンプリング, 組成分析等(結晶方位解析は使用不可)
自己測定
学内 学外
| 設置年 | 2009 |
|---|---|
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 化学・物理・工学・医学 |
| 管理部局 | 自然科学研究科 |
| 使用責任者 | 自然科学研究科 |
| 拠点 | 30. その他のグループに所属(ナノ構造解析・分析ユニット) |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 | 利用可能者と認定されればHPから予約・利用可能。 |
|---|---|
| 費用負担 |
利用時間に応じて負担。消耗品は実費負担。4期ごとに精算。 |
| 詳細情報 | http://www.gnst.okayama-u.ac.jp/tem/ |