JIB-4500, EDS, EBSP

分析SEM/FIB複合機

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概要

FIBによるサンプリング, 組成分析,結晶方位解析 等

自己測定 学内 学外
設置年 2009
装置カテゴリ
適合分野 化学・物理・工学・医学
管理部局 自然科学研究科
使用責任者

自然科学研究科
(工学部)竹元 嘉利
(内線 8027)

拠点

30. その他のグループに所属(ナノ構造解析・分析ユニット)

共同利用について

利用にあたっての留意事項

利用可能者と認定されればHPから予約・利用可能。

費用負担

利用時間に応じて負担。消耗品は実費負担。年度ごとにまとめて精算。

詳細情報 http://www.gnst.okayama-u.ac.jp/tem/
予約するお問い合わせ

設置場所

工学部10号館101号室