株式会社日立ハイテク SU9000型
微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)
概要
微細構造リモート観察システム*の中核機器です。
*SU9000の他, 2-1 (光学顕微鏡 Olympus・FV3000)を含む種々の前処理機器群から構成される,物質の微細構造を観察・解析するための共用研究システム。
用途:固体試料の表面観察, EDX分析
分解能 0.4 nm と, 世界最高性能の分解能を有しています。
測定可能な試料の形態:固体(小塊,粉末,薄膜など)※ 厚みのある試料,および磁性材料は要相談。
サンプルの必要量:数十mg 程度(スパチュラ1杯分)
その他:各種前処理装置を用意。本体のリモート操作も可能
Keyword:微細構造, SEM, FE-SEM, 電界, EDX, EDS
装置の仕様・特色
特徴:オプションパーツを用いると,試料断面の観察,STEMモードの観察が可能。EDS, EDX分析およびリモート操作にも対応しています。
※ 印加電圧 30kV において 分解能 0.4 nm と, 世界最高性能の分解能を有しています。
※ 液体,気体試料の分析はできません。
※ 高真空下で測定するため,試料はよく乾燥が必要です。
※ リモート操作は要相談。
| 設置年 | 2022年 |
|---|---|
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 化学系 生物学系 物理学系 工学系 地学系 |
| 管理部局 | 自然生命科学研究支援センター |
| 使用責任者 | 異分野コア 仁科 勇太 (内線 8718) |
| 拠点 | 03.自然生命科学研究支援センター 分析計測・極低温部門 |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 | ・初利用者は指導員によるトレーニング(OJT)を受けて頂きます。単独での測定は,技能習熟後になります。 |
|---|---|
| 費用負担 |
(自己測定) (依頼分析) |
| 自己測定利用法 |
設備NWの予約システム*1を用い,利用資格申請を行ってください。操作指導*2を受けた方に利用資格を承認します。 |
| その他 |
ご利用に際して,利用者登録をお願いしています。問い合わせボタンまたは,以下のリンク先に掲載した担当者にご連絡ください。 |
| 詳細情報 | http://www.tt.vbl.okayama-u.ac.jp/img/kyoyoukiki-23.pdf |
| 利用方法や利用規程 | http://www.tt.vbl.okayama-u.ac.jp/img/1_1_riyoukitei.pdf |
依頼測定について
| 分析内容 | サンプルを送付頂き,本学スタッフが観察を行います。試料の性状を確認した上で,観察条件(印加電圧,倍率など)を打ち合わせします。その後,打ち合わせにより決定した条件で,観察します。 |
|---|---|
| 申込方法 | 申込ボタンからご連絡ください。 |
| 申込用紙 | https://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/measure/howtouse#documents |