日立ハイテク・S5200
走査型電子顕微鏡（FE-SEM）
概要
FE-SEM。固体試料(小塊,粉末,薄膜など)の高分解能観察を行うことができます。付属のオプションパーツを用いることで，試料断面の観察，STEM モードの観察も可能です。
リユース
廃棄済
| 設置年 | 2013 |
|---|---|
| 装置カテゴリ | 5. 顕微鏡・イメージング |
| 適合分野 | 1. 化学系 2. 物理系 3. 生物系 4. 工学系 5. 医学系 6. 薬学系 7. 地学系 |
| 設置場所 | 岡山市 |
リユースについて
| 提供者所属 | 異分野融合先端研究コア |
|---|---|
| 情報提供日 | 2021/10/07 |
| 現在の設置場所 | 新技術研究センター 107室 |
| 購入時の価格帯 | 50万～200万円 |
| 稼働状況 | 月1回以上稼働 |
| 装置状態 | 一部の機能が不調なので、該当部品の交換を推奨する |
| 提供・転出時期 | ～2022/01/31 |
| 提供先の決定方法について | 通常設定（公開後2週間は共同利用優先。それ以降は先着順） |
| 年間維持費 | |
| 残り使用可能年数 | |
| 参考情報その他（装置を利用した研究例など） | "・制御PC：Windows XP ・・・ 動作は問題なく，機器も高分解能を維持しています。（EDS分析には対応していません。） |