Bruker 社製 高性能原子間力顕微鏡 マルチモード8型AFM

高性能走査プローブ顕微鏡

高性能走査プローブ顕微鏡

概要

試料表面を細い針で走査することにより、試料表面の凹凸や硬さ、電気的な情報を比較的簡単に測定することができます。

装置の仕様・特色

測定可能モード
コンタクトモードAFM、共振AFM(タッピングモード)、ピークフォースAFM(ダイレクトフォースコントロールAFM)、位相モード、摩擦力顕微鏡モード、フォースカーブ、フォースボリューム、電気力顕微鏡モード、表面電位顕微鏡モード、KPFMモード(機械特性と表面電位同時取得)

測定可能サイズ
 高性能スキャナ (10x10x2.5um)
 広範囲スキャナ (125x125x5um)
測定環境
 大気中、液中、加熱・冷却環境 (-35℃から250℃まで)

自己測定 学内 学外
設置年 2014
装置カテゴリ
適合分野 物理学系
管理部局 自然科学研究科(工)
使用責任者

自然科学研究科
内田哲也(内線8103)

拠点

03. 自然生命科学研究支援センター  分析計測・極低温部門

共同利用について

利用にあたっての留意事項

使用法について指導を受ける,予約制
★学生の方へ
あらかじめ指導教員と打ち合わせを行ってから問い合わせをするようにお願いします。
また、問い合わせの際には必ず指導教員の氏名・メールアドレスの記載をお願いいたします。

費用負担


使用時間に応じた費用負担
自己測定:
 (学内) 121円/0.25時間
 (学外) 649円/0.25時間
プローブ等の消耗品は、各利用者で準備していただきます。

http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/dia/3HP用_学内自己測定利用料金_現行.pdf
自己測定利用法

利用資格: 装置管理責任者によって教育を受け,使用の了解を得た者。

利用の申請: 管理責任者に申し出る。

その他

プローブは使用者各自で準備してください。
利用料金は後日、決定、連絡いたします。

詳細情報 http://www.okayama-u.ac.jp/user/kikibun/index.html
利用方法や利用規程 http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/dia/kitei_riyouyoukou.pdf
機器利用の申込・お問い合わせ

設置場所

コラボレーションセンター 3階309号室

309
内線:8749
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