薄膜評価用試料水平型X線回折装置㈱リガク製 SMARTLAB-PRO,高輝度X線発生装置(9KW、CUロータターゲット),試料水
薄膜試料X線回折装置
概要
本装置は、X線を用いて試料表面に照射し、回折するX線のパターンを測定することによって、非破壊で試料の結晶性とその方位決定を行うものである。
Key word 結晶 固体 粉末 表面 構造 回折 X線
自己測定
依頼測定
学内 学外
| 設置年 | 2009 |
|---|---|
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 物理系その他 |
| 管理部局 | 自然生命科学研究支援センター |
| 使用責任者 | 自然科学研究科 |
| 拠点 | 03. 自然生命科学研究支援センター 分析計測・極低温部門 |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 | エックス線業務従事者登録を済ませた者に限る。 |
|---|---|
| 費用負担 |
利用料金料金を徴収している |
| 自己測定利用法 |
利用希望者は「装置問合せフォーム」等より監守者へお申し込み下さい。 |
| 詳細情報 | https://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/dia/kitei_riyouyoukou.pdf |
| 利用方法や利用規程 | http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/reports#regulation |
依頼測定について
| 申込方法 | 「依頼測定の申込・お問い合わせ」フォームよりお問合せください。 |
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