日本分光・M220
エリプソメータ
概要
偏光解析法により、薄膜の厚さや屈折率を精度よく測定する。エリプソメータは光を透過する材料であれば全て評価対象となる.
リユース
成立済
| 設置年 | 1998年 |
|---|---|
| 装置カテゴリ | 光分析・解析装置 |
| 適合分野 | 化学系,物理系,工学系,医学系 |
| 設置場所 | 岡山市 |
リユースについて
| 提供者所属 | 環境生命科学研究科（環） |
|---|---|
| 情報提供日 | 2016/12/01 |
| リユース前所属・設置場所 | 東京工業大学 |
| リユース後所属・設置場所 | 岡山大学環境理工学部 |
| リユース後の用途 | 1.共同利用機器 |
| リユース後共同利用情報URL | /equipments/view/5d01b3d28804f |