Malvern Panalytical 社 Aeris
X線回折装置(XRD)
概要
用途:結晶構造の同定
測定可能な試料の形態:固体(粉末,薄膜)
※ 必要量:数十～百mg 程度(スパチュラ2～3杯分)
装置の仕様・特色
・2種類の試料板(ガラス製,Si製無反射板)を用意しています。
・Si製無反射板は結晶性の低い試料の測定にも有用です。
※ 液体,気体試料の分析はできません。
※ 試料は粉末状に砕いて測定します。薄膜状の試料はそのまま
測定できます。
| 設置年 | 2016 |
|---|---|
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 化学系 物理学系 工学系 地学系 |
| 管理部局 | 異分野融合先端研究コア |
| 使用責任者 | 異分野コア 仁科 勇太 (内線 8718) |
| 拠点 | 12.その他のグループに所属(新共用) |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 | ・初利用者は指導員によるトレーニングを受けて頂きます。単独での測定は,技能習熟後になります。 |
|---|---|
| 費用負担 |
学内:\ 550 / 1時間 |
| 自己測定利用法 |
・以下の申込・問い合わせボタンから希望日をご連絡ください。 （学内の方へ）本機はルミネスバッジの着用は不要です。 |
| その他 |
ご利用に際して,利用者登録をお願いしています。問い合わせボタンまたは,以下のリンク先に掲載した担当者にご連絡ください。 |
| 詳細情報 | http://www.tt.vbl.okayama-u.ac.jp/img/kyoyoukiki-21.pdf |
| 利用方法や利用規程 | http://www.tt.vbl.okayama-u.ac.jp/img/1_1_riyoukitei.pdf |
設置場所
新技術研究センター