カメカ社製 IMS-5F 外
二次イオン質量分析計
概要
マイクロメータースケールの局所領域における微量元素濃度を高精度に測定する装置
自己測定
学内 学外
| 設置年 | 1993 |
|---|---|
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 化学系 |
| 管理部局 | 惑星物質研究所 |
| 使用責任者 | 惑星研 中村 栄三 |
| 拠点 | 10. 地球惑星科学研究拠点 |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 | 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 |
|---|---|
| 費用負担 |
惑星研負担 |
| 詳細情報 | http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/ |
| 利用方法や利用規程 | http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/ |
設置場所
研究棟125号室