セイコーインスツルメンツ SPI3800N
プローブ顕微鏡
概要
ナノメートルのオーダーで試料表面の形状を分析できる装置
自己測定
学内 学外
| 設置年 | 1999 |
|---|---|
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 物理学系 |
| 管理部局 | 自然科学研究科 |
| 使用責任者 | 自然科学研究科 |
| 拠点 |