JEM-2100F EDS, EELS(使用不能)
分析STEM
概要
原子レベルでの観察・分析,高温・低温観察 等
装置の仕様・特色
JEOL JEM-2100F HRP仕様 CEOS社製Csコレクタ付
加速電圧：80-200kV
分解能：0.1nm以下
観察モード：TEM，STEM，SEM
2軸傾斜（±35°，±30°）試料ホルダー
分析用2軸傾斜（±35°，±30°）試料ホルダー
加熱2軸傾斜（±25°，±18°，～1000℃）試料ホルダー
冷却2軸傾斜（±15°，±15°，-160℃）試料ホルダー
高傾斜（±80°）試料ホルダー
JEOL JED-2300T（EDS）エネルギー分解能：133eV
Gatan ES500W 低倍像や回折像用CCDカメラ（1.3k×1k）
Gatan USC1000 高分解能用CCDカメラ（2k×2k）
Gatan Tridiem（エネルギーフィルタ）
JIC-400 イオンクリーナ
自己測定
依頼測定
学内 学外
| 設置年 | 2009 |
|---|---|
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 化学・物理・工学・医学 |
| 管理部局 | 自然科学研究科 |
| 使用責任者 | 自然科学研究科 |
| 拠点 | 30. その他のグループに所属(ナノ構造解析・分析ユニット) |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 | 利用可能者と認定されればHPから予約・利用可能。 |
|---|---|
| 費用負担 |
利用時間に応じて負担。消耗品は実費負担。4期ごとに精算。 |
| その他 |
依頼測定は管理者まで問い合わせ下さい |
| 詳細情報 | http://www.gnst.okayama-u.ac.jp/tem/ |