03.自然生命科学研究支援センター 分析計測・極低温部門
微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)
設置年:2022年株式会社日立ハイテク SU9000型
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レーザーラマン分光光度計(ナノ物性高精度合成評価システム)
設置年:2013日本分光（株）製 NRS-5100NPS(分析計測分野移設 2023年3月)
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鉄材料用高速X線回折装置
設置年:2014リガク製 試料水平型多目的X線回折装置 UltimaIV
(2007年製)
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イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置)
設置年:2009Bruker Daltonics, HCT
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HPLC-Chip/QTOF質量分析システム
設置年:2009アジレントテクノロジー社 G6520型+G4240型
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水平型粉末X線回折装置
設置年:2009試料水平型回転対陰極式X線回折装置 ㈱リガク製(RINT-TTRⅢ-MTA) X線発生装置(18K
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微小単結晶構造回折装置
設置年:2009極微小結晶対応IP単結晶X線回折装置㈱リガク製 RAPIDⅡWITH VARIMAX-CU システム,微小点X線発生装置(RA-MIC
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薄膜試料X線回折装置
設置年:2009薄膜評価用試料水平型X線回折装置㈱リガク製 SMARTLAB-PRO,高輝度X線発生装置(9KW、CUロータターゲット),試料水
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飛行時間型質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)
設置年:2009Bruker Daltonics, micrOTOF II
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